芯片/板级/集成电路的电磁兼容测试解决方案

满足IEC61967、IEC62132、SAE J1752等集成电路产品的电磁兼容测试解决方案,提供电路板级别的电磁兼容测试解决方案;支持芯片性能测试和电磁兼容测试的复合解决方案。

  • 覆盖各种瞬态、电源特性测试需求,
  • 提供数据库管理软件,用于产品的数据管理和统计分析,数据库可以兼容其他主流测试软件的数据

功能特点

  • 自动化测试系统满足各类芯片、集成电路的电磁兼容测试要求
  • 可以和各种监控设备进行连接用于被测件状态的监控,实现全自动化的测试解决方案
  • 灵活的系统配置,满足后期的升级和扩展要求,满足交流和直流测试的各类需求

产品优势

  • 灵活的系统配置,满足各类标准的要求
  • 支持各类电子产品的测试要求,方便后期升级

应用场景

  • 芯片和集成电路的发射测试
  • 芯片和集成电路的抗扰度测试
  • 电路板的发射和抗扰度测试
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