紧缩场测试系统

系统概述

紧缩场测试系统利用高精度反射面和专用馈源,在暗室静区内形成准平面波环境,使被测天线在有限空间内获得近似远场的测试条件。该系统具有静区质量高、测试重复性好、自动化程度高等特点,显著缩短了传统远场测试距离,提高了测试效率。它是面向高增益天线、毫米波天线、卫星通信终端、雷达设备及整机OTA测试的重要验证平台。

系统特点

  • 快速测试:支持相控阵天线快速校准,多频点、多波位快速自动化测试。
  • 实时控制:具备微秒级实时控制能力,协调各仪器工作,实现收发状态方向图快速切换。
  • 指标分析:实时显示测试曲线并自动获取参数,支持线/圆极化、交叉极化、半功率波束宽度、副瓣电平、指向精度及增益分析。
  • 系统自检:具备完善的系统自检及校准功能。
  • 扩展性:预留功能开发及模块替换接口,确保系统可拓展性。

系统框架

技术指标

  • 频率范围:3~40GHz(可扩展到110GHz或更高)
  • 系统尺寸:按需定制
  • 静区尺寸:按需定制
  • 反射面尺寸:按需定制
  • 交叉极化隔离度:≤-27dB
  • 动态范围:≥ 60dB
  • 测试点最小间隔:≤0.01°

典型配置

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