行业方案

平面近场天线测试系统

平面近场测试系统依托高精度二维扫描机构，在被测天线近场区域采集幅度、相位数据，通过近远场变换算法输出远场方向图、增益、旁瓣、极化等测试结果。系统适配平板相控阵天线、口径天线、高增益阵列天线，可在有限空间内完成大口径、高增益天线高精度测量。同时支持口径场幅相分布、阵面一致性分析，为天线调试、阵列校准、故障定位提供数据支撑。