平面近场天线测试系统

系统概述

平面近场测试系统依托高精度二维扫描机构,在被测天线近场区域采集幅度、相位数据,通过近远场变换算法输出远场方向图、增益、旁瓣、极化等测试结果。系统适配平板相控阵天线、口径天线、高增益阵列天线,可在有限空间内完成大口径、高增益天线高精度测量。同时支持口径场幅相分布、阵面一致性分析,为天线调试、阵列校准、故障定位提供数据支撑。

系统特点

  • 自动化测量:支持线极化、圆极化天线的幅度与相位方向图近场自动化测量。
  • 数据处理:具备平面近场到远场变换功能,支持直角/极坐标系下任意切面方向图绘制。
  • 反演分析:具有口面场反演功能,可获取距离天线口面任意距离的场分布。
  • 参数计算:自动处理波束宽度、副瓣、零深、增益、轴比等电参数。
  • 阵列校准:支持阵列及相控阵天线的单元一致性自动化校准,支持多频、多波位测量。

系统框架

技术指标

  • 频率范围:1GHz – 40GHz(可扩展到110GHz或更高)
  • 增益测量重复性误差(RMS):≤±0.25dB
  • 天线增益测量精度(标准增益喇叭自身误差除外):增益测量最大测量误差:≤±0.5dB
  • 副瓣电平最大测量误差:
    • -10dB副瓣电平:≤±1dB
    • -20dB副瓣电平:≤±1.5dB
  • 波瓣宽度误差(RMS):
    • ≤波束宽度*5%@(3dB波束宽度>2°)
    • ≤0.1°@(3dB波束宽度≤2°)
  • 系统动态范围:≥60dB
  • 平面近场测量平面度(RMS):≤0.05mm

典型配置

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